可寻址 JTAG 端口，Texas Instruments

Texas Instruments SCANSTA111 将 IEEE 标准 1149.1 测试总线延长到多站测试总线环境，具有增强的测试吞吐量优势，且可从系统移除板，同时将测试存取固定到剩余系统模块。 每个设备支持多达三个本地 IEEE 1149.1 扫描环，可串联组合或单独访问。 32 位 TCK 计数器可对一个端口执行内置自测操作，同时可测试其他扫描链条。

The IEEE 1149.1 标准测试接入端口和边界扫描体系结构使用由 Joint Test Action Group 的 JTAG 缩略词为人熟知的设备，且用于测试和调试系统端口和印刷电路板组件。 大多数嵌入式系统采用 JTAG 端口以启用在线调试和固件编程，除边界扫描测试之外。